国家标准编号 | 国家标准名称 | 标准适用范围 |
GB/T 33087-2016 | 仪器分析用高纯水规格及试验方法 | 本标准规定了仪器分析用高纯水的规格和试验方法 本标准适用于经0.22μm微孔滤膜过滤的仪器分析用高纯水的检验 |
GB/T 30301-2013 | 高纯试剂试验方法通则 | 本标准适用于高纯试剂试验方法中实验用水与试剂、器具与容器、器具的清洗、保存和实验环境、样品溶液及标准溶液的配制和通用方法。 |
GB/T 28159-2011 | 电子级磷酸 | 本标准规定了电子级磷酸的要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存等 本标准适用于电子工业用磷酸 |
GB/T 12963-2014 | 电子级多晶硅 | 本标准规定了多晶硅的要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、储存、质量证明书和订货单(或合同)内容 本标准适用于以氯硅烷、硅烷制得的多晶硅。 |
GB/T 31369-2015 | 太阳电池用电子级氢氟酸 | 本标准规定了太阳电池用电子级氢氟酸的性状、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、标签和包装、运输、储存。 本标准适用于电子级氢氟酸 |
ISO 13319:2007 | 粒度分析 电阻法 | |
ISO 21501-3:2007 | 粒度分析 单颗粒的光学测量方法:第3部分:液体颗粒计数器光阻法 | |
ISO 21501-2:2007 | 粒度分析 单颗粒的光学测量方法:第2部分:液体颗粒计数器光散射法 | |
ISO 21501-1:2007 | 单粒与光相互作用测定粒度分布的方法 第1部分:单粒与光相互作用 | |
ISO 20998-2:2013 | 超声法颗粒测量与表征 第2部分:线性理论准则 | |
ISO 20998-1:2006 | 超声法颗粒测量与表征 第1部分:超声衰减谱法的概念和过程 | |
ISO 22412:2008 | 粒度分析 动态光散射法(DLS) | |
ISO 13317-1:2001 | 粒度分析 液体重力沉降法 第1部分:通则 | |
ISO 15901-3:2007 | 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第3部分:气体吸附法分析微孔 | |
ISO 15901-2:2006 | 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第2部分:气体吸附法分析介孔和大孔 | |
ISO 15901-1:2005 | 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第1部分:压汞法 | |
ISO 13322-1:2004 | 粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法 | |
ISO 14887:2000 | 样品制备-粉末在液体中的分散方法 | |
ISO 13321:1996 | 粒度分析--光子相关光谱法 | |
ISO 13320:2009 | 粒度分析 激光衍射法 | |
ISO 9276-5:2005 | 粒度分析结果的表述 第6部分:颗粒形状和形态的定性和定量表述 | |
ISO 9276-5:2005 | 粒度分析结果的表述 第5部分:用对数正态概率分布进行粒度分析的计算方法 | |
ISO 9276-4:2001 | 粒度分析结果的表述-第4部分:分级过程的表征 | |
ISO 9276-2:2001 | 粒度分析结果的表述-第2部分:由粒度分布计算平均粒径/直径和各次矩 | |
ISO 9276-1:1998 | 粒度分析结果的表述 第1部分:图形表征 | |
GB/T 21649.2-2017 | 粒度分析 图像分析法 第2部分:动态图像分析法 | |
GB/T 29024.4-2016 | 粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第4部分:洁净间光散射尘埃粒子计数器 | |
GB/T 31057.1-2014 | 颗粒材料 物理性能测试 第1部分:松装密度的测量 | |
GB/T 29025-2012 | 粒度分析 电阻法 | |
GB/T 29024.3-2012 | 粒度分析 单颗粒的光学测量方法:第3部分:液体颗粒计数器光阻法 | |
GB/T 29024.2-2016 | 粒度分析 单颗粒的光学测量方法:第2部分:液体颗粒计数器光散射法 | |
GB/T 29023.2-2016 | 超声法颗粒测量与表征 第2部分:线性理论准则 | |
GB/T 29023.1-2012 | 超声法颗粒测量与表征 第1部分:超声衰减谱法的概念和过程 | |
GB/T 29022-2012 | 粒度分析 动态光散射法(DLS) | |
GB/T 26647.1-2011 | 单粒与光相互作用测定粒度分布的方法 第1部分:单粒与光相互作用 | |
GB/T 26645.1-2011 | 粒度分析 液体重力沉降法 第1部分:通则 | |
GB/T 25863-2010 | 不锈钢烧结金属丝网多孔材料及其元件 | |
GB/T 21650.3-2011 | 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第3部分:气体吸附法分析微孔 | |
GB/T 21650.2-2008 | 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第2部分:气体吸附法分析介孔和大孔 | |
GB/T 21650.1-2008 | 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第1部分:压汞法 | |
GB/T 21649.1-2008 | 粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法 | |
GB/T 20099-2006 | 样品制备-粉末在液体中的分散方法 | |
GB/T 19627-2005 | 粒度分析--光子相关光谱法 | |
GB/T 19077-2016 | 粒度分析 激光衍射法 | |
GB/T 16742-2008 | 颗粒粒度分布的函数表征 幂函数 | |
GB/T 16418-2008 | 颗粒系统术语 | |
GB/T 15445.6-2014 | 粒度分析结果的表述 第6部分:颗粒形状和形态的定性和定量表述 | |
GB/T 15445.5-2011 | 粒度分析结果的表述 第5部分:用对数正态概率分布进行粒度分析的计算方法 | |
GB/T 15445.4-2006 | 粒度分析结果的表述-第4部分:分级过程的表征 | |
GB/T 15445.2-2006 | 粒度分析结果的表述-第2部分:由粒度分布计算平均粒径/直径和各次矩 | |
GB/T 15445.1-2008 | 粒度分析结果的表述 第1部分:图形表征 | |
GB/T 16944-2009 | 电子工业用气体 氮 | |
GB/T 16945-2009 | 电子工业用气体 氩 | |
GB/T 16942-2009 | 电子工业用气体 氢 | |
GB/T 14604-2009 | 电子工业用气体 氧 | |
GB/T 16943-2009 | 电子工业用气体 氦 | |
GB/T 14600-2009 | 电子工业用气体 氧化亚氮 | |
GB/T 14601-2009 | 电子工业用气体 氨 | |
GB/T 18867-2014 | 电子工业用气体 六氟化硫 | |
GB/T 8979-2008 | 纯氮、高纯氮和超纯氮 | |
GB/T 4842-2006 | 氩 | |
GB/T 3634.2-2011 | 氢气 第2部分:纯氢、高纯氢和超纯氢 | |
GB/T 14599-2008 | 纯氧、高纯氧和超纯氧 | |
GB/T 4844-2011 | 纯氦、高纯氦和超纯氦 |