服务内容描述

仪器简介：

       AXIS Ultra DLD（日本岛津Kratos公司）型多功能能谱仪可以提供有关固体表面和界面的化学信息。可以一次全分析除氢、氦以外的所有元素，并可以提供测定相对含量的半定量分析。最具有特色的是XPS可以测定元素的化学价态及化学环境的影响。此外，通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息。

主要功能：
       ※ X射线光电子能谱（XPS），可使用单色化Al靶X射线源及双阳极Al/Mg靶X射线源，包括大面积XPS（0.8×2 mm），微区XPS（最小选区15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，最小能量分辨率0.48 eV（Ag 3d5/2），成像空间分辨率＜3 μm；
       ※ 场发射俄歇电子能谱（AES），包括深度剖析AES；
       ※ 扫描俄歇显微成像（SAM）；
       ※ 紫外光电子能谱（UPS）等。

样品要求：

       ※ 固体样品（面积≤1.0 cm2，高（厚）度≤4.0 mm）或粉末固体样品（≥20 mg）；

       ※ 真空干燥，不含腐蚀性、易挥发性、磁性及放射性物质。

应用领域：

       主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。   广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

网上参考数据库：

NIST数据库

LaSurface数据库

关键字

XPS, 光电子能谱，表面化学，化学环境，化学价态，表面分析。

服务时间

8:30—16:00

收费情况

面议

服务响应时间

1天

参照标准

所用仪器

Shimadzu/Kratos AXIS Ultra DLD

服务方式

送样，现场测试

已有服务案例

复旦大学、中国科学院上海应用物理研究所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所等

现有实验技术

服务联系人信息

姓名

郝萍

电话

15901856360

传真

电子邮件

haop@simt.com.cn